CN 41-1243/TG ISSN 1006-852X

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固结磨料研磨蓝宝石晶片的工艺优化

郑方志 朱永伟 朱楠楠 王凯 沈琦

郑方志, 朱永伟, 朱楠楠, 王凯, 沈琦. 固结磨料研磨蓝宝石晶片的工艺优化[J]. 金刚石与磨料磨具工程, 2016, 36(1): 11-15. doi: 10.13394/j.cnki.jgszz.2016.1.0003
引用本文: 郑方志, 朱永伟, 朱楠楠, 王凯, 沈琦. 固结磨料研磨蓝宝石晶片的工艺优化[J]. 金刚石与磨料磨具工程, 2016, 36(1): 11-15. doi: 10.13394/j.cnki.jgszz.2016.1.0003
ZHENG Fangzhi, ZHU Yongwei, ZHU Nannan, WANG Kai, SHEN Qi. Parameter optimization of sapphire wafer lapping with fixed abrasive pad[J]. Diamond & Abrasives Engineering, 2016, 36(1): 11-15. doi: 10.13394/j.cnki.jgszz.2016.1.0003
Citation: ZHENG Fangzhi, ZHU Yongwei, ZHU Nannan, WANG Kai, SHEN Qi. Parameter optimization of sapphire wafer lapping with fixed abrasive pad[J]. Diamond & Abrasives Engineering, 2016, 36(1): 11-15. doi: 10.13394/j.cnki.jgszz.2016.1.0003

固结磨料研磨蓝宝石晶片的工艺优化

doi: 10.13394/j.cnki.jgszz.2016.1.0003
基金项目: 

航空科学基金(2014ZE52055);国家自然科学基金(51175260)

详细信息
    作者简介:

    郑方志,男,1989年生,硕士研究生。研究方向:精密超精密加工。E-mail:zhaojianp4@qq.com

    通讯作者:

    朱永伟,男,1967年生,教授,博士生导师。研究方向:精密超精密加工、表面工程等。E-mail:meeywzhu@nuaa.edu.cn

  • 中图分类号: TG58

Parameter optimization of sapphire wafer lapping with fixed abrasive pad

  • 摘要: 为了满足蓝宝石晶片高效低损伤的加工要求,采用亲水性固结磨料研磨垫研磨蓝宝石晶片的工艺,研究基体中碳化硅粒度尺寸、基体类型、金刚石粒度尺寸及研磨液中磨料4个因素对材料去除率和表面粗糙度的影响,并综合优化获得高加工效率和优表面质量的工艺参数。实验结果表明:基体中碳化硅粒度尺寸为10 μm、基体类型为Ⅱ、研磨垫采用F公司粒度尺寸为35~45 μm的金刚石、研磨液中磨料的粒度尺寸为5 μm的碳化硅为最优工艺组合,亲水性固结磨料研磨蓝宝石的材料去除率为431.2 nm/min,表面粗糙度值为Ra 0.140 2 μm。

     

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出版历程
  • 修回日期:  2015-12-15
  • 网络出版日期:  2022-07-27

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