CN 41-1243/TG ISSN 1006-852X

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大径厚比铜片的化学机械抛光

万策 金洙吉 吴頔 刘作涛 司立坤

万策, 金洙吉, 吴頔, 刘作涛, 司立坤. 大径厚比铜片的化学机械抛光[J]. 金刚石与磨料磨具工程, 2018, 38(3): 81-85. doi: 10.13394/j.cnki.jgszz.2018.3.0016
引用本文: 万策, 金洙吉, 吴頔, 刘作涛, 司立坤. 大径厚比铜片的化学机械抛光[J]. 金刚石与磨料磨具工程, 2018, 38(3): 81-85. doi: 10.13394/j.cnki.jgszz.2018.3.0016
WAN Ce, JIN Zhuji, WU Di, LIU Zuotao, SI Likun. Chemical mechanical planarization of copper sheet with high radius-thickness ratio[J]. Diamond & Abrasives Engineering, 2018, 38(3): 81-85. doi: 10.13394/j.cnki.jgszz.2018.3.0016
Citation: WAN Ce, JIN Zhuji, WU Di, LIU Zuotao, SI Likun. Chemical mechanical planarization of copper sheet with high radius-thickness ratio[J]. Diamond & Abrasives Engineering, 2018, 38(3): 81-85. doi: 10.13394/j.cnki.jgszz.2018.3.0016

大径厚比铜片的化学机械抛光

doi: 10.13394/j.cnki.jgszz.2018.3.0016
基金项目: 

科学挑战专题资助(编号:JCKY2016212A506-0107、JCKY2016212A506-0103)

详细信息
    作者简介:

    万策,男,1991年生,硕士研究生。主要研究方向:大径厚比纯铜零件的化学机械抛光。E-mail:wclord@sina.com

  • 中图分类号: TG58;TG73

Chemical mechanical planarization of copper sheet with high radius-thickness ratio

  • 摘要: 以次氯酸钠为氧化剂,六偏磷酸钠为络合剂,OP-10乳化剂为表面活性剂,硅溶胶为磨料配制抛光液(pH 9),对粗抛光后的大径厚比铜片进行化学机械抛光。测量铜片抛光前后的平面度与表面粗糙度,用X射线能谱仪分析铜片表面的元素组成,用X射线衍射仪分析铜片表面的物相及残余应力。试验结果显示:铜片的平面度PV值由抛光前的4.813 μm降至抛光后的2.917 μm,表面粗糙度Ra值由抛光前的31.373 nm降至抛光后的3.776 nm;抛光前后铜片表面的元素组成及物相无明显变化,化学作用与机械作用达到了平衡,磨粒与抛光垫形成的机械作用能迅速去除铜片表面的氧化物层;且化学机械抛光显著降低铜片粗抛光后表面产生的残余应力。

     

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出版历程
  • 修回日期:  2018-03-15
  • 网络出版日期:  2022-07-07

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